波长色散X射线荧光光谱法测定锰硅、锰铁合金中主次量元素

• 作者: 丁玉献 张庆峰
• 来源期刊: 山东冶金
• 关键词: 波长色散X射线荧光光谱法 玻璃熔片 锰硅 锰铁
• 年，卷（期）: 2021,（4）
• 所属期刊栏目: 试验研究|Test Research
• 页码范围: 40-41
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文

摘要

将试样与氧化剂充分混匀,放置在熔剂铺底的铂金坩埚中,再以少许熔剂覆盖,滴加少量溴化锂作脱模剂,放置于熔融仪中在高温下熔融,铸成玻璃熔片.样品表层经X-射线照射,产生特征X-射线荧光强度,根据特征X射线强度和标准值回归工作曲线,计算出样品中锰、硅和磷的质量分数.经大量试验证明,此方法操作简便,分析周期短,分析结果准确可靠,尤其适宜作为大批量合金检验的方法.