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摘要:
本文主要是对传统集成电路装片工艺所面临的挑战与使用DAF膜技术装片过程中的局限性进行论述,并且与当前已有的DAF膜情况进行深入的对比,对该方法的封装工艺装片、划片等重点工序与变更情况进行深入的描述,对于影响到晶圆背面的涂覆质量中的关键因素进行深入说明.
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文献信息
篇名 IC封装中涂覆技术的应用
来源期刊 电子元器件与信息技术 学科
关键词 半固化状态 喷雾与旋转 预装式 晶圆背面涂覆
年,卷(期) 2021,(4) 所属期刊栏目 电子元器件与材料
研究方向 页码范围 61-62
页数 2页 分类号 TN6
字数 语种 中文
DOI 10.19772/j.cnki.2096-4455.2021.4.029
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研究主题发展历程
节点文献
半固化状态
喷雾与旋转
预装式
晶圆背面涂覆
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件与信息技术
月刊
2096-4455
10-1509/TN
16开
北京市石景山区鲁谷路35号
2017
chi
出版文献量(篇)
2445
总下载数(次)
25
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