基于FPGA与DDS的频率特性测试仪的设计

• 作者: 张强 崔永俊
• 来源期刊: 电子设计工程
• 关键词: 频率特性测试仪 FPGA DDS 频率特性 AD9852
• 年，卷（期）: 2021,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与控制|Measurement and Control
• 页码范围: 129-133
• 页数: 5页
• 分类号: TN711.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.14022/j.issn1674-6236.2021.07.028

摘要

为了更好地对被测电路的幅频特性与相频特性进行测量,提出一种基于DDS技术与FPGA设计的频率特性测试仪.该测试仪以FPGA为控制与数据处理的核心,由高性能的DDS技术产生信号,以AD8302来检测频率相位增益,测量了1～90 MHz带宽的频谱特性,有点测与扫频测量两种选择.将测量结果与Matlab仿真的结果进行对照,结果高度吻合;与点测法的测量结果对比,幅频特性测量误差的绝对值小于0.5 dB,相位测量误差不大于3°,且基本实现了测试仪的全数字化、小型化、功耗低、本身操作简便、准确度高、稳定性强,且频率测量范围宽广.