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摘要:
提出一种基于颗粒散射光强正交分布差的颗粒尺寸和折射率同时测量方法.该方法利用颗粒散射光的垂直/平行分量和预设折射率,通过改进的Chahine算法反演得到粒径分布.根据所得粒径分布,计算得到平行/垂直分量,并与测量的平行/垂直分量比对,计算其拟合残差.遍历可能的折射率,使拟合残差趋于无穷小时,所对应的折射率即为颗粒的折射率,对应的粒度分布即为样品粒度分布.对聚丙乙烯标准颗粒、碳化硅及石墨样品进行测量,测量结果显示:对无吸收颗粒,折射率测量准确,吸收性颗粒虚部测量准确,使用所得到折射率测量值可得到准确的粒度分布.
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文献信息
篇名 基于散射光偏振分布差的颗粒尺寸及折射率测量
来源期刊 光学学报 学科 物理学
关键词 散射 Mie理论 颗粒折射率测量 颗粒粒度测量 偏振散射
年,卷(期) 2021,(19) 所属期刊栏目 散射|Scattering
研究方向 页码范围 239-247
页数 9页 分类号 O436
字数 语种 中文
DOI 10.3788/AOS202141.1929001
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研究主题发展历程
节点文献
散射
Mie理论
颗粒折射率测量
颗粒粒度测量
偏振散射
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学学报
半月刊
0253-2239
31-1252/O4
大16开
上海市嘉定区清河路390号(上海800-211信箱)
4-293
1981
chi
出版文献量(篇)
11761
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