波长色散-X射线荧光光谱法测定地质样品中氯和硫的方法研究

• 作者: 李贺 张兵兵 杨园 吕胜男
• 来源期刊: 广东化工
• 关键词: 粉末压片 X射线荧光光谱法 地质样品 氯 硫
• 年，卷（期）: 2021,（10）
• 所属期刊栏目: 分析测试|Analysis testing
• 页码范围: 204-206
• 页数: 3页
• 分类号: TQ
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1865.2021.10.077

摘要

本文采用粉末压片-X射线荧光光谱法测定土壤及水系沉积物样品中氯和硫的含量.选择国家标准物质与人工配制校准物质建立校准曲线,经验系数校正基体效应和谱线干扰,求得氯和硫的方法 检出限分别为5.43μg/g和1.47μg/g,探讨了样品测定次数对测定结果的影响,研究了熔融法消除硫的粒度和矿物效应的可行性.该方法测定氯和硫的准确度(△logC)分别为Cl-0.022～0.015、S-0.010～0.032,精密度(RSD％)分别为Cl 1.86～3.90、S2.22～5.79,其检出限、准确度和精密度均达到行业标准DZ/T0258-2014的要求,具有操作简便、准确度高、成本低的特点,适用于测定大批量的地质样品.