GIS绝缘子内部缝隙的局部放电特性和机理研究

• 作者: 徐洋 高文胜 高文胜
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: GIS 绝缘子 局部放电 介质阻挡放电
• 年，卷（期）: 2022,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 116-122
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001⁃1609.hva.2020.07.017

摘要

GIS绝缘子内部缝隙是一种较为常见的绝缘缺陷。但对其产生局部放电的特性和机理的研究大多基于实验室模拟缺陷，较少有以实际绝缘子上的缝隙为对象展开的研究，因而得到的结果也不可避免地与现场的实际情况存在一定的偏差。文中以一个包含内部缝隙的GIS支柱绝缘子为对象，研究了其在短时间和长时间高压作用下的局部放电特性，并使用介质阻挡放电模型解释了其产生局部放电的机理和过程。将理论分析推理得到的放电特性与实测放电特性进行了比较，证明了理论分析过程的正确性；并合理地解释了该放电不易被特高频方法所检测的原因。文中的研究内容对于绝缘子制造工艺的改进，以及绝缘子内部缝隙的出厂试验和现场检测方法的选择具有重要的参考意义。