TFT-LCD液晶显示行业高温高湿G线和黑团原因分析

• 作者: 王升相 赵海峰 王俊荣 郑兴科
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 腐蚀 高温高湿
• 年，卷（期）: 2022,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析|Reliability Analysis
• 页码范围: 37-43
• 页数: 7页
• 分类号: TN873+.93
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2022.02.009

摘要

TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良,是影响液晶显示产品品质的主要问题之一.G线与黑团会同时发生,有时也会单独发生,我们认为黑团与G线的产生有个共同原因:水汽渗入;该文重点讲述G线不良的分析内容.在显微镜下可明确G线的失效直接原因为框胶覆盖下的GOA电路走线区交换孔被腐蚀,这种腐蚀在新品以及量产阶段的信赖性实验中都经常发生.部分不良品在切割边可看到明显的破损痕迹,我们认为是由于外力作用下边框密封性变差而导致水汽渗入的.但大部分失效品在切割边见不到明显异常,失效分析难度较大,一直困扰着液晶显示行业的各大厂商.近年来,我们一直致力于此类问题的分析研究,最终明确了水汽渗入的路径,建立了失效模型,并给出了一些合理的改善建议.其中一些改善措施已经实施到本公司产品上,结果令人满意.