计算机片外Flash故障的研究

• 作者: 叶心波 李健 王前程
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 自检
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 计量仪器科研与实践|Reasearch and Practice of Measuring Instruments
• 页码范围: 57-59
• 页数: 3页
• 分类号: TP334.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2022.1.017

摘要

某产品计算机在低温测试过程中出现片外Flash故障,通过对芯片读写状态的分析,发现在低温状态下,芯片复位不充分产生的故障,深层次地分析Flash芯片的工作模式,利用冗余读操作,启动芯片内部状态机的运行,使芯片再次复位,解决此故障.