两种检测方法在分层缺陷中的检测分析与比较

• 作者: 王长蕾 徐海亮 胡修坤
• 来源期刊: 大众标准化
• 关键词: 分层缺陷 超声检测 相控阵检测
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 检验检测
• 页码范围: 175-177
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1350.2022.01.059

摘要

文章详细介绍了分层缺陷形成的机理及危害,在特种设备定期检验中其存在的初步判别,以及普通超声检测和相控阵检测对分层缺陷的定位测量方法,并通过检验实例对这两种方法进行了比较,给出了适用范围.