霉菌染污状态下硅橡胶复合绝缘子的沿面闪络特性分析

• 作者: 陈天羽 杨世芳 刘云鹏 李泳霖 耿江海 王瑶 贾志东 夏云峰
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 霉菌 硅橡胶 闪络电压 憎水性 微观测试
• 年，卷（期）: 2024,（11）
• 页码范围: 94-100
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2023.11.015

摘要

硅橡胶复合绝缘子在湿热地区中运行其表面存在霉菌附着引起的微生物染污问题，霉菌作为一种特殊的生物污秽对硅橡胶绝缘子性能的影响尚不明确。本文对悬式绝缘子串进行霉菌染污，并在不同污秽等级下对绝缘子串沿面闪络特性进行分析，通过憎水性分析、扫描电镜以及红外光谱3种微观测试方法研究霉菌浓度对绝缘子沿面闪络特性的影响。结果表明：对于同一污秽等级的绝缘子，当存在霉菌污染时，相较于无霉菌染污的绝缘子，霉菌对硅橡胶表面结构造成破坏，导致硅橡胶憎水性显著降低，进而造成闪络电压大幅降低，与对照组相比，沿面闪络电压最低可下降至原始水平的76%；但在同一污秽等级下，霉菌浓度达到107个/cm2时，沿面闪络电压下降出现拐点，下降速度放缓并趋于饱和状态。综上，霉菌的附着行为与硅橡胶自然老化协同作用使霉菌菌丝在绝缘子表面形成微型孔洞，导致有机硅橡胶分子链断裂，降低了绝缘子的闪络电压，影响了硅橡胶绝缘子的稳定运行。