原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
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CCD220
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低温
电子倍增
电离率
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EMCCD
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数字PID
温度控制
积分限幅
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室温硫化硅橡胶
老化
泄漏电流
热失重分析
傅里叶红外光谱
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 EMCCD 倍增增益老化分析与评价技术
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科 工学
关键词 电子倍增电荷耦合器件;微光成像;倍增增益老化;国产化
年,卷(期) 2025,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 40-43
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
电子倍增电荷耦合器件;微光成像;倍增增益老化;国产化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
论文1v1指导