原文服务方: 电子质量       
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硬件设计
软件设计
可编程逻辑器件
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 可编程延时器件的批量测试方法研究
来源期刊 电子质量 学科
关键词 延时器件;批量测试;自动测试系统测试;板级测试
年,卷(期) 2025,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 78-82
页数 5页 分类号
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
延时器件;批量测试;自动测试系统测试;板级测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
6848
总下载数(次)
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