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LSI制造与测试期刊
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LSI制造与测试1992年出版文献
出版文献量(篇)
366
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LSI制造与测试
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投稿
主办单位:
上海光学仪器研究所
ISSN:
CN:
31-1459/TN
出版周期:
双月刊
邮编:
200062
地址:
上海江西中路450号
出版文献量(篇)
366
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目录
1.
电子专用设备工业的机遇与现代化
作者:
董元昌
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
3-5
摘要:
2.
效益 来自质量保证和新品开发的成功
作者:
王晨晨
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
6-9
摘要:
3.
实行全面质量管理是提高企业经济效益的有效途径
作者:
沈涛涛 莫增权
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
10-11
摘要:
4.
制造集成电路用的光学仪器
作者:
沈建森
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
12-29
摘要:
5.
集成电路掩模板保护膜
作者:
王幼汇
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
30-34
摘要:
6.
蔡司精密微电子IC制造设备简介
作者:
钱鉴霞
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
35-38
摘要:
7.
再谈投影光刻技术
作者:
路敦武
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年1期
页码: 
39-42
摘要:
8.
微电子技术推动军事装备和战争格局的变革:兼论半导体设备新概念
作者:
董大为
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年2期
页码: 
24-29
摘要:
9.
世界电子元件发展及市场
作者:
陆国权
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年2期
页码: 
30-36
摘要:
10.
国外光电子产业的进展
作者:
庄松林
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
1-4
摘要:
11.
微电子器件及设备的现状和发展趋势
作者:
沈国雄
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
5-8
摘要:
12.
市场 科技进步及效益:电子专用设备的探讨
作者:
徐端颐
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
9
摘要:
13.
制造集成电路用的光学仪器
作者:
沈建森
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
10-26
摘要:
14.
扫描隧道显微镜
作者:
夏国鑫 黄惠金
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
27-33
摘要:
15.
激光红外在印板焊接工艺中的应用研究
作者:
唐开元 杨公达
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年3期
页码: 
34-39
摘要:
16.
硅微电子技术向全盛时代迈进
作者:
许居衍
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
3-6
摘要:
17.
扫描隧道显微镜在微电子工业中的应用
作者:
孙桂静 张鸿海
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
11-12
摘要:
18.
STGK100型1:1扫描投影光刻机真空 气动系统
作者:
沈蓓军 邹海兴
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
13-17
摘要:
19.
光刻胶处理系统的国内外现状
作者:
管慧
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
18-22
摘要:
20.
关于用AER作光学图形发生的器的研究:作水平线条图形发生器
作者:
黄迪辉
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
23-28
摘要:
21.
高效空气过滤器产品标准的介绍
作者:
陈长镛
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年4期
页码: 
29-31
摘要:
22.
硅微电子技术发展趋势分析
作者:
许居衍
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
1-6
摘要:
23.
立足自主开发,走消化吸收创新之路
作者:
姜剑国 陆汝恒
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
7-9
摘要:
24.
开展设备管理QC活动创出质量效益五百万元
作者:
张耀庭 王玉龙
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
10-15
摘要:
25.
CDMS—1型电视线宽测量仪
作者:
丁生华 沈蓓军
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
16-20
摘要:
26.
线宽测量阈值
作者:
丁生华 邹海兴
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
21-25
摘要:
27.
在SEM中实现IC线宽测量
作者:
华建华 杜秉初
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
26-30
摘要:
28.
一种可变物距的测径光学系统:变距测径仪的设计
作者:
冯炳华 李复新
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
31-35
摘要:
29.
去除静电对大规模集成电路生产的危害
作者:
张亚平 蔡君质
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年5期
页码: 
36-39
摘要:
30.
晶体生长设备的现状与发展
作者:
袁文愈
刊名:
LSI制造与测试
发表期刊:
1992年6期
页码: 
2-5
摘要:
共
40
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LSI制造与测试基本信息
刊名
LSI制造与测试
主编
曾用名
主办单位
上海光学仪器研究所
主管单位
出版周期
双月刊
语种
ISSN
CN
31-1459/TN
邮编
200062
电子邮箱
电话
021-650226
网址
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