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LSI制造与测试1996年出版文献
出版文献量（篇）
366
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LSI制造与测试
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主办单位：
上海光学仪器研究所
ISSN：
CN：
31-1459/TN
出版周期：
双月刊
邮编：
200062
地址：
出版文献量（篇）
366
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年1期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年1期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年1期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年1期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年1期页码:摘要： 研制了一种脉冲重复频率为１０ＨＺ的激光等离子体软Ｘ射线源。采用Ｘ射线能量计对光源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要： 本文简要介绍了磁性测量仪器的国内外现状，着重讨论了永磁，软磁等测量仪器国产化的可行性，最后对磁性行业测量仪器的市场作了估计与预测。
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10. 磁性元件专用磨床刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要： 本文论述了机械式自动压自动成型的工艺过程，及其非同时三次加压的工作原理，介绍了克服压块脱模弹性后效的，保压脱模工作方式，及其结构原理。
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12. 多刀外圆切片机应用及其工作原理刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要：
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13. 26米全自动双推板彩偏磁芯烧结窑刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要： ２６ｍ全自动双推板彩偏磁芯烧结窑是我国自行研制的首条彩偏磁芯烧结窑，其主要技术能达到九十年代国际先进水平，填补了国内空白，本文着重叙述了烧结温度与窑内气氛要求对烧结设备带来的困难与解决对策，...
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14. 28米全自动氮气氛保护推板窑刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要： ２８ｍ全自动氮气氛保护推板窑是目前国内最长的锰锌氧体连续方烧结设备，特别适应于大规模生产和大磁芯烧结。本文介绍了该设备的主要技术指标，设备特点及运行情况，提供了４８所软磁氧体烧结设备性能表。
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15. 永磁元件磁性参数快速无损检测方法刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要： 本文简要介绍了永磁元件的快速，无损测量方法及所需仪器，设备，并说明了采用这些检测系统时所应当注意的若干问题，对大生产工程具有较好的参考价值。
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16. 间歇式球磨机刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年2期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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20. 半导体制造工艺中的静电问题刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要： 随着半导体器件的微细化设计的进展，我们必须极深刻的地重新认识静电问题，因此。本文在过去半导体制造工艺中的静电问题基础上，结合国内外的文献资料，主要介绍静电问题的所在及其概况。
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21. 半导体器件生产工艺中防静电措施刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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22. 静电防护的新型材料导电塑料刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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23. 绝缘电阻测量的影响因素刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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24. 新一代功能复合导电塑料刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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26. 企业在市场竞争中扑击刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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27. 防静电报装发展概述刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要：
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28. 电子工业国内外防静电标准综述刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年3期页码:摘要： 本文简要介绍阵同有关电子工业防静电标准制订情况，特点，提出了进一步加强电子工业防静电标准化工作的思路和工作重点。
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29. 新型晶体管测试仪刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文阐述了新型晶体测略仪的硬件和软件的特点，着重介绍系统的硬件体系结构和高精度的精密测量单元。文章较详细地论述电流增益ＨＦＥ的快速逼近法。
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30. 晶体管测试仪软件系统刊名： LSI制造与测试发表期刊： 1996年4期页码:摘要： 本文首先介绍晶体管测试的概念，阐述晶体管测试仪的体系结构和晶体管参数的测试方法，并较为详细地描述测试系统的软件结构。
LSI制造与测试基本信息
| 刊名 | LSI制造与测试 | 主编 | |
| 曾用名 | |||
| 主办单位 | 上海光学仪器研究所 | 主管单位 | |
| 出版周期 | 双月刊 | 语种 | |
| ISSN | CN | 31-1459/TN | |
| 邮编 | 200062 | 电子邮箱 | |
| 电话 | 021-650226 | 网址 | |
| 地址 | 上海江西中路450号 |
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