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公开时间：2017-11-14

摘要:

本发明公布了一种集成电路版图验证中的图形结构调整方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查（DRC）领域。本方法的基本步骤如下：首先对于版图中出现的符合一定条件的小层次单元采用单元选择方法，对层次结构调整的目标层次单元和源层次单元进行选择。其次采用单元结构调整方法，对选择出的源单元和目标单元进行层次结构调整，达到优化版图层次结构，进而优化版图规则验证的目的。

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2.【专利】一种集成电路版图与平板显示版图中基于最短距离的间距检查结果分类方法

发明人：马海南于士涛范永兴路艳芳杨晓东

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2017-05-31

摘要:

一种集成电路版图与平板显示版图中基于最短距离的间距检查结果分类方法属于半导体集成电路设计自动化领域，主要涉及如何将间距检查结果按照违反间距规则严重程度排序，提高人工分类效率。平板显示版图的间距检查借鉴于集成电路版图，二者存在类似的问题，即并非所有违规结果都要修改版图。目前，主要依赖人工判断，将所有结果分为需要修改版图和不需要修改版图两类。事实上，影响人工分类最重要的指标是间距检查结果的最短距离。本发明在执行间距检查期间同时计算最短距离，将最短距离附加到间距检查结果上，反标到原始版图，辅助人工分类。同时，根据最短距离由小到大对结果排序，从而近似实现了按照违规严重程度排序，显著提高人工检图效率。

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3.【专利】一种集成电路版图验证的层次化天线检查方法

发明人：张路马海南李志梁

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2014-06-04

摘要:

本发明公布了一种集成电路版图验证的层次化天线检查方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查（DRC）和集成电路版图网表提取（NE）领域。本方法的基本步骤如下：首先采用图形选择提升和表达式值计算提升方法，以逆拓扑序依次处理各个层次单元得到节点输出结论。其次，利用层次结果调整方法以拓扑序处理各个层次单元，对已判断出的输出节点进行层次优化。最后，以逆拓扑序处理各个层次单元，根据已有节点输出结果及其层次输出图形。在集成电路版图验证中利用本方法，有利于更快速地计算带有层次关系的节点表达式值，提高天线检查操作效率。

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4.【专利】集成电路版图验证图形拓扑命令并发计算方法

发明人：宋德强马海南

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2012-08-01

摘要:

本发明公布了一种使用于集成电路版图验证工具中的图形拓扑命令计算方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查(DRC)和版图与原理图的一致性检查(LVS)领域。本发明创造性地提出了并发的图形拓扑命令计算方法，用于解决甚大规模集成电路版图验证过程中所面临的运行时间过长，验证效率低，进而导致版图无法验证的问题。图形拓扑命令并发计算方法基于扫描线局部性原理，通过查询状态转移矩阵的方式来完成图形拓扑关系计算，在一次扫描线的执行中完成所有6种图形拓扑命令的计算。实验结果表明，图形拓扑命令并发计算方法减少了命令执行时间，极大地提高了版图验证效率。

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5.【专利】一种甚大规模集成电路版图比较工具数据重用方法

发明人：于士涛王国庆马海南白丽双

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2013-06-19

摘要:

一种甚大规模集成电路版图比较工具数据重用方法属于半导体集成电路设计自动化领域，主要针对甚大规模后端版图的差异比较操作，提供数据支持解决方案。本发明针对甚大规模集成电路版图比较操作中所面临的内存消耗巨大，经常引发内外存交换，进而加剧时间消耗，导致版图比较操作最终不可解等问题，提出一种全新高效的数据支持方法。此方法采用数据重用技术实现层次版图扁平化，和传统版图扁平化方法相比，显著降低内存占用，减少甚至完全避免内外存交换，提高处理效率，显著增强了版图比较操作的工程可解性。

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6.【专利】基站无线场强覆盖区域范围确定方法和装置

发明人：马海南张国华林春庭李鹏潘阳发金伟罗志毅邓清

申请人：亿阳信通股份有限公司

公开时间：2011-01-26

摘要:

本发明公开了一种基站无线场强覆盖区域范围确定方法，包括步骤：将所有基站的经纬度对应的位置点映射成平面上的全基站点集；将所述全基站点集处理成剖分三角网格；确定所述剖分三角网格中包含相同基站点的三角形的外接圆的圆心的位置，并将所述圆心依次相连形成的区域确定为所述基站的泰森多边形区域；确定基站的泰森多边形区域与其初始圆覆盖区域的重叠区域，并将所述重叠区域的范围确定为所述基站的无线场强覆盖区域范围。本发明同时还公开了一种基站无线场强覆盖区域范围确定装置。利用本发明无须考虑地形地貌因素，可以简便、快捷地确定基站或小区的无线场强覆盖区域范围。

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7.【期刊】对称性全局统计分析中的定理证明

作者：潘长缘马海南陈雪平张应山

刊名：华东师范大学学报（自然科学版）

发表时间：2009-05-01

摘要:

证明了对称性全局统计分析方法中的几个重要定理,保证了任意系统函数能够进行正交对称分解,确保了系统函数方差分解公式成立,这些是对称性全局统计分析方法的核心基石.通过考察对称函数在整个系统函数中所起作用的大小,达到认识系统函数对称性的目的.实例表明,将贡献率的Monte-Carlo计算值作为全局分析中对称函数的敏感性度量指标,可以较好地刻画系统函数的对称性.

类对称算符正交幂等系统对称函数全局统计分析

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被引 8

8.【专利】一种数学教学用辅助绘图仪

发明人：马海南

申请人：浙江工业职业技术学院

公开时间：2018-11-09

摘要:

本实用新型公开了一种数学教学用辅助绘图仪，包括吸附于铁磁性软黑板上的磁块，所述磁块背吸面通过固定柱与转轴固定连接，所述转轴的外边缘通过滚珠与旋转套筒传动连接，所述旋转套筒的顶部设有储放盒，所述储放盒上设有直角尺储放室、圆规储放室、直角三角尺储放室和三角尺储放室，所述直角尺储放室、圆规储放室、直角三角尺储放室和三角尺储放室的外侧面均通过铰接件铰接有封盖，所述封盖的另一端通过弹性卡扣与储放盒上的卡槽卡接，所述储放盒的外侧设有圆形量角器储放盒，所述圆形量角器储放盒右侧面固定设有磁性圆柱，所述磁性圆柱的外侧面吸附有磁性圆环。该数学教学用辅助绘图仪使用方便，能够辅助数学教学绘图，结构简单。

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9.【专利】集成电路版图数据库的快速比较方法

发明人：王国庆王志明丁丰庆毛凌颖于士涛马海南戴斌华

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2013-06-19

摘要:

集成电路版图数据库的快速比较方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是集成电路设计后端工艺流程中版图数据库的比较(LVL)领域。主要应用于超大规模集成电路版图比较工具，对两个集成电路版图数据库进行快速比较并报告其差异。本发明的目的在于：提供一种集成电路版图数据库的快速比较方法，通过自动识别和去除两个版图数据库中重复出现的几何图形，保留差异元素，显著缩短比较时间。其主要实现过程包括：①依次读入两个版图数据库并将几何图形保存在哈希表中；②利用哈希表快速删除两个数据库的公共图形；③输出哈希表中保留的图形。

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10.【专利】一种平板显示版图设计规则检查的去除重复报错方法

发明人：成杰王小冷马海南刘艳霞路艳芳

申请人：北京华大九天软件有限公司

公开时间：2015-04-29

摘要:

本发明公布了一种使用于平板显示（FPD）电路版图验证工具中的减少重复报错方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查（DRC）领域。本发明能够大幅减少平板显示电路版图验证中的重复错误，方便版图设计人员快速定位和修正错误。本发明的关键步骤包括：切割象素单元矩阵并重命名象素单元以区分内层和外层单元、重组象素单元矩阵的层次结构为树形结构、自底向上标记投影单元、将投影单元内的报错结果自顶向下投影直至象素单元。通过投影操作，把大量的位于上层的报错投影至象素单元，达到了减少重复报错的目的。实验结果表明，本发明能够有效降低重复报错数目2个数量级以上。

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