液晶小预倾角测试的数值分析

• 作者: 朱鹤年 杜天良 王新久
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶 极值点 晶体 光强 透过率 预倾角 数值分析 测试 薄层
• 年，卷（期）: 1993,（4）
• 页码范围: 29-34
• 页数: 6页
• 分类号: O753.2

摘要

用晶体旋光法测量液晶薄层的预顺角，文献[1]介绍了测出光强透过率曲线T(i)，据“对称”极值点ix由a=1/2Arcsin 2nosinix/(nx+no)[(n^20-sin^ix)的平方根]计算出α。