平晶——平面度检测时干涉图的形成原理

• 作者: 李勤达
• 来源期刊: 电碳
• 学科: 工学
• 关键词: 平面度 检测 平面平晶 干涉图
• 年，卷（期）: 1996,（4）
• 页码范围: 19-21
• 页数: 3页
• 分类号: TG824

摘要

本文从光学原理出发，较系统和形象地说明了“干涉图”的形成原理。该原理对现场检测人员加深对干涉图的理解和对“干涉图”进行正确分析，都有一定帮助。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李勤达		1	0	0.0	0.0