在云母绝缘多应力老化中微观缺陷的作用

• 作者: 木村见 焦刚军
• 来源期刊: 国外大电机
• 学科: 工学
• 关键词: 云母绝缘 老化机理 绝缘材料
• 年，卷（期）: 1996,（6）
• 页码范围: 47-51
• 页数: 5页
• 分类号: TM215.5

摘要

在多应力作用下环氧云母绝缘的老化机理可通过击穿试验和扫电子显微镜两种方法进行研究。同时作用的多应力试验结果表明，热应力和机械应力对绝缘的电气寿命有一个协同效应。在顺序施加热老化作用和机械应力以后。残余电气击穿特性也得到了类似的。通过扫描电子显微镜可以证明，应力可导致环氧云母的界面分离，用一台新研制的带有随动机构的工电子显微镜仪器，可观察到在机械疲劳试验过程中分层和裂缝的发展。