某引信电路的可靠性预计和贮存寿命分析

• 作者: 夏建中 李长福 杨毅
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 引信 电路 可靠性 寿命
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: TJ4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1194.1999.03.008

摘要

利用GJB/Z 299A和GJB/Z 108分别对某无线电引信的分立元器件电路和集成电路的作用可靠性进行了预计,并对电路的贮存寿命进行了预计和对比分析.