光学元件吸收测量

• 作者: 李家镕 魏红振
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 量热法 光学薄膜 吸收测量
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 所属期刊栏目: 测量和防护
• 页码范围: 284-287
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 1898字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.1999.05.011

摘要

采用量热法测量了光学元件的吸收,分析了元件表面反射对测量的影响,并测量了GaAs基片和GaAs高反镜的吸收,分析了测量误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏红振	华中理工大学激光技术国家重点实验室	2	7	2.0	2.0
2	李家镕	华中理工大学激光技术国家重点实验室	2	7	2.0	2.0