半导体光电探测器光谱灵敏度的测试

• 作者: 刘晖 朱日宏 朱煜 陈进榜
• 来源期刊: 南京理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 绝对光谱灵敏度 相对光谱灵敏度 量子效率 单色器 误差分析
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 页码范围: 129-132
• 页数: 4页
• 分类号: TN206
• 字数: 1520字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9830.1999.02.009

摘要

对半导体光电探测器光谱灵敏度的测试原理进行分析研究,就研制的1套波长范围为0.4～1.1μm的采用双光路替代法,可以测试半导体光电探测器的光谱灵敏度和量子效率的光谱灵敏度测试装置进行了分析,该装置在测试过程中可以减小光源不稳定性对测试结果的影响,可以测试相对光谱灵敏度、绝对光谱灵敏度,还分析了影响该装置测试精度的一些因素,并给出了测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱日宏	南京理工大学电子工程与光电技术学院	129	1152	16.0	28.0
2	陈进榜	南京理工大学电子工程与光电技术学院	29	291	11.0	15.0
3	刘晖	南京理工大学电子工程与光电技术学院	4	24	4.0	4.0
4	朱煜	南京理工大学电子工程与光电技术学院	3	19	3.0	3.0