常用数字集成电路的在系统自动检测

• 作者: 吴宁
• 来源期刊: 数据采集与处理
• 学科: 工学
• 关键词: 数字系统 故障检测 自检
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 531-533
• 页数: 3页
• 分类号: TP277
• 字数: 2205字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9037.1999.04.029

摘要

介绍了电子设备工作中常用数字集成电路的故障自检.根据各类器件的逻辑特点及其在应用电路中的作用,利用数字电路的冗余功能,分别研究了其在系统中工作的同时进行故障自检的方法.该方法故障覆盖率不高,但简单实用,易于实现.文中还研究了同类器件在电子系统中的联动检测方法,进一步简化自检电路,并通过计算机进行了仿真和部分实验验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴宁	南京航空航天大学电子工程系	78	622	12.0	22.0