基质辅助激光解吸与离子化时间飞行质谱在高分子研究中的应用

• 作者: 徐又一 徐志康 朱凌燕
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 质谱 基质 高分子的分子量 分子量分布 末端基 聚合反应机理 评述
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 评述与进展
• 页码范围: 224-229
• 页数: 6页
• 分类号: O6
• 字数: 4218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.1999.02.025

摘要

对基质辅助激光解吸与离子化时间飞行质谱的发展历程和基本原理作了简要介绍,对这一分析技术在高分子研究中的应用进行了全面的综述和展望.文中表明,MALDI-TOF-MS能快速准确地测定窄分布高分子的分子量,可测分子量达1500000,所得平均分子量值及分子量分布指数与GPC等常规方法相符;能用于高分子末端基的检测,从而推断聚合反应机理;也能用于共聚反应与共聚物结构的分析;另外,还能从分子量分布得到自由基聚合反应的链增长常数等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐又一	浙江大学高分子科学与材料研究所	86	1486	23.0	33.0
2	徐志康	浙江大学高分子科学与材料研究所	64	1004	19.0	30.0
3	朱凌燕	浙江大学高分子科学与材料研究所	2	45	2.0	2.0