基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱在高分子研究中的应用

• 作者: 孙畅
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱 源后裂解 高分子
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 109-111
• 分类号: TH843
• 语种: 中文

摘要

在质谱学的发展过程中,如何获得大分子物质的质谱信息一直是最具有挑战性的课题。在过去的20年里,大分子的质谱研究取得了很大进展,发展出快原子轰击（FAB）、液质联用（LC-MS）、基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱（MALDI-TOF）以及质谱/质谱串联（MALDI-TOF/TOF）等技术,并在生物大分子的结构测定、高聚物的结构及端基测定、共聚物的序列结构及组成等方面对高分子科学的发展作出了突出贡献。本文结合具体实例着重介绍了MALDI-TOF MS在大分子分析中的技术优势及应用