专用集成电路的设计验证方法及一种实际的通用微处理器设计的多级验证体系

• 作者: 杨文华 罗晓沛
• 来源期刊: 计算机研究与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 专用集成电路 软件模拟 事件驱动 硬件加速 硬件仿真 静态时序分析 形式验证
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 所属期刊栏目: 集成电路
• 页码范围: 764-768
• 分类号: TN4|TP3
• 语种: 中文

摘要

随着专用集成电路制造工艺及设计方法的飞速发展,片上系统可集成的功能越来越多,规模越来越大,设计验证越来越复杂,只有使用先进的设计验证方法充分地验证其设计,才能保证一次投片成功.文中针对专用集成电路设计验证的各种方法和一种实际的通用微处理器设计的多级验证体系作了专门的描述,对片上系统设计者在构建自己的设计验证方案、使设计得以充分验证方面能给予一定的参考.