长期相关过程的自相关对排队性能的影响

• 作者: 吴昱静 孙海荣 李乐民
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 长期相关 短期相关(SRD) VBR视频 网络业务流 自相关
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 92-95
• 分类号: TN91
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.1999.06.020

摘要

近年来,长期相关(LRD)性对ATM网的建模和控制的影响还存在分歧.本文研究了LRD过程的二阶统计特性对排队的影响,认为它受缓存大小及利用率的控制.通过仿真给出了结论,并从理论上进行论证.最后,针对建模提出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李乐民	电子科技大学光纤通信国家重点实验室	278	2035	20.0	28.0
2	孙海荣	电子科技大学光纤通信国家重点实验室	21	92	7.0	8.0
3	吴昱静	电子科技大学光纤通信国家重点实验室	2	11	2.0	2.0