高频铜箔绕组中的最佳气隙设计

• 作者: 松炳超
• 来源期刊: 电子变压器技术
• 学科: 工学
• 关键词: 气隙设计 铜箔绕组 高频
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 23-31
• 页数: 9页
• 分类号: TM463.2

摘要

由于趋肤、邻近、边缘以及其它交流效应，在变压器和电感器绕组中通常会引起高频交流损耗。此外，线组结构会大大地影响绕组内损耗的分布。通常在磁性器件的磁心中设置的气隙，以维持高的磁动势（ｍｍｆ）。由于边缘场会引起绕组附加的交流损耗，因此务必注意减少附加损耗。本文将研究气隙设计对所引起损耗的影响。特别是将研究并估算三种气隙的设计，即集总气隙、离散分敢隙和均匀分布气隙。采用一维（１－Ｄ）分析法和有限元分析法