离散总试验时间变换及其应用

• 作者: 孙俊锁 程侃
• 来源期刊: 鞍山科技大学学报
• 学科: 数学
• 关键词: TTT变换 分析性质 年令更换问题
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 287-292
• 页数: 6页
• 分类号: O228
• 字数: 2257字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1048.2000.04.013

摘要

给出离散寿命分布的总试验时间变换的表达式和 ,并讨论两者的相互关系及其单调性、连续性、正则性等分析性质.另外,给出了按年龄更换问题的TTT图分析法,该方法的实质是在离散分布的正则TTT图上找出斜率最大的直线的端点P*N(t*N,H*N(t*N)),然后由t*N确定最佳更换年龄N* =F-1(t*N).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙俊锁	鞍山钢铁学院数理系	5	9	1.0	3.0