人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析

• 作者: 孙东升 尹龙卫 李木森 邹增大 郑培智 郝兆印
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 人造金刚石 微观杂质 高温高压 透射电子显微术
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 394-398
• 页数: 5页
• 分类号: TQ164.8
• 字数: 2028字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2000.04.020

摘要

本文成功地利用透射电子显微术探讨了高温高压条件下于Fe-Ni-C系统中生长的人造金刚石单晶内部的微观杂质.分析了金刚石晶体中杂质的微观结构、化学成分组成、晶体结构及其可能形成的原因.研究结果表明,金刚石晶体中微观杂质与原材料、传压介质和高温高压过程密切相关,主要由面心立方(FeNi)23C6,正交结构的FeSi2,面心立方SiC和非晶态石墨组成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝兆印	吉林大学国家超硬材料重点实验室	39	171	8.0	12.0
2	李木森	山东工业大学材料科学与工程学院	8	57	5.0	7.0
3	邹增大	山东工业大学材料科学与工程学院	8	102	5.0	8.0
4	孙东升	山东工业大学材料科学与工程学院	3	22	3.0	3.0
5	尹龙卫	山东工业大学材料科学与工程学院	2	12	2.0	2.0
6	郑培智	山东工业大学材料科学与工程学院	1	3	1.0	1.0