用VXI仪器集成的通用自动测试系统

• 作者: 封吉平 张宏伟 蔡金燕
• 来源期刊: 华北工学院测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: VXI 自动测试系统 检测 诊断
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 154-156
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 1563字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2000.03.003

摘要

目的研制一种高性能的通用自动测试系统. 方法用 VXI 仪器集成, 数据库管理. 结果系统技术先进, 故障检测率高, 通用性和可扩展性强. 结论系统适用于不同电子产品的检测\, 诊断和维修.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	封吉平	军械工程学院光学与电子工程系	40	171	8.0	10.0
2	蔡金燕	军械工程学院光学与电子工程系	144	811	13.0	18.0
3	张宏伟	军械工程学院光学与电子工程系	64	278	8.0	14.0