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摘要:
利用灰阶编码掩模实现光学邻近效应精细校正是改善光刻图形质量的有效方法,设计并利用电子束直写系统加工了用于实现邻近效应校正的灰阶编码掩模,首次在投影光刻系统上用这一方法实现了光学邻近效应校正,获得了满意的实验结果,在可加工0.7微米的I线曝光装置上获得了经邻近效应校正的0.5微米光刻线条.
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全局曝光窗口
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掩模
电子束曝光
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PEC
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 用灰阶编码掩模进行邻近效应校正的实验研究
来源期刊 微细加工技术 学科 工学
关键词 灰阶编码掩模 光学邻近效应校正 亚微米光刻
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 光子束技术
研究方向 页码范围 39-44
页数 6页 分类号 TN205
字数 2646字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭永康 四川大学物理系 87 836 16.0 21.0
2 杜惊雷 四川大学物理系 77 611 13.0 18.0
3 张怡霄 四川大学物理系 27 205 9.0 12.0
4 粟敬钦 四川大学物理系 13 153 7.0 12.0
5 崔铮 英国卢瑟福国家实验室微结构中心 8 189 5.0 8.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
灰阶编码掩模
光学邻近效应校正
亚微米光刻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
总被引数(次)
4940
论文1v1指导