开关电路的测试技术研究

• 作者: 单月晖
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 开关电路 测试 m序列
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 微机电路与应用
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 2781字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2000.04.005

摘要

首先介绍了测试技术的现状以及测试对开关电路成本和质量的影响,然后介绍了固体开关电路中几种常用的测试方法,最后介绍了机电开关电路的测试方法,并给出了应用m序列脉冲进行按钮开关电路可靠性测试的一个例子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	单月晖	国防科技大学电子科学与工程学院	11	180	7.0	11.0