触头盒内最大电场强度的计算

• 作者: 张树华 蒋豪贤 郑良辉
• 来源期刊: 广东电力
• 学科: 工学
• 关键词: 触头盒 镜像法 电场强度
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 6-7,21
• 页数: 3页
• 分类号: TM564
• 字数: 1546字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-290X.2000.02.002

摘要

建立了舌形触头盒内最大电场强度的计算公式.公式表明触头盒的介电常数愈大,盒内触头最大电场强度愈小.公式计算结果与实测相当接近,可供舌形触头盒绝缘结构设计参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋豪贤	华南理工大学电力学院	1	0	0.0	0.0