边界扫描测试信息压缩算法

• 作者: 易晓山 温熙森 胡政
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 边界扫描 测试生成 优化
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 机电工程·应用数学
• 页码范围: 101-105
• 页数: 5页
• 分类号: TN707|TN702
• 字数: 3604字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2486.2000.02.023

摘要

为了解决IEEE 1149.1边界扫描测试优化生成问题,提出了一种新型的测试矩阵压缩算法.该算法首先应用被测试电路板的结构信息构造有限制的短路故障模型,然后以有限制的短路故障模型为基础对测试矩阵进行压缩处理,尽可能剔除测试矩阵中的无效测试信息,从而达到测试优化生成的目的.理论分析及实验验证表明,该算法能够获得紧凑性指标相当优化的测试矩阵,实现较高的测试信息压缩率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡政	国防科技大学机电工程与自动化学院	28	269	9.0	14.0
2	温熙森	国防科技大学机电工程与自动化学院	96	1778	24.0	38.0
3	易晓山	国防科技大学机电工程与自动化学院	24	268	10.0	15.0