论有限回溯测试模式产生方法

• 作者: 曹贺锋 曾芷德
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 有限回溯测试模式产生 确定性测试生成 故障模拟
• 年，卷（期）: 2000,（11）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 102-105
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 字数: 3764字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.11.027

摘要

本文首先剖析了有限回溯测试模式产生(FBTPG)方法的实质,然后在深入分析三种ATPG系统的C-B曲线的实验数据的基础上,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据.最后以ISCAS-85和ISCAS-89电路为基础,给出了FBTPG与随机测试生成、确定性测试生成和商用ATPG系统FlexTest的实验比较结果,从而论证了FBTPG方法处理超大规模时序电路的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾芷德	国防科技大学计算机学院	10	23	3.0	3.0
2	曹贺锋	国防科技大学计算机学院	2	9	2.0	2.0