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基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法的实现
基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法的实现
原文服务方：
微电子学与计算机
摘要：
提出了一种基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法,并在Xilinx Virtex-Ⅱ Pro开发环境下实现了测试生成算法,穷举和回溯算法用软件设计实现,算法中状态矩阵的计算和检测用硬件设计实现,系统的整体设计在型号为XC2VP30的实验板上进行了验证.
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自反馈测试
穷举
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研究分支
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期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位：
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-7180
CN：
61-1123/TN
开本：
大16开
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
1972-01-01
语种：
chi
出版文献量（篇）
9826
总下载数（次）
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总被引数（次）
59060
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