时序电路的模糊化测试生成算法

• 作者: 刘晓东 孙圣和 张毅刚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试生成 时序电路 模糊故障
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 24-25
• 页数: 2页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.10.008

摘要

文章提出的模糊化的时序电路测试生成算法不明确指定故障点的故障值,它将故障值模糊化,并以符号表示.本算法第一阶段通过计算状态线和原始输出端的故障值来寻找测试矢量,通过计算故障点的正常值来寻找测试矢量对应的故障类型;第二阶段用故障点的正常值作为约束条件计算故障点的另一个测试矢量.与传统的算法不同,它不需要回退和传播的过程.实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较少的测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙圣和		112	2796	27.0	49.0
2	张毅刚		33	809	12.0	28.0
3	刘晓东		24	176	9.0	12.0