一种时序电路的测试生成算法

• 作者: 佘强 陈护勋
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 时序电路测试生成 迭代阵列模型 测试效率
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 26-33
• 页数: 8页
• 分类号: TP306+.3
• 字数: 3853字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2001.03.006

摘要

本文提出了一种高效的时序电路测试生成算法,该算法是建立在自适应算法的基础上,并使用了十七值逻辑模型.文章详细介绍了该测试算法的内容及其实现过程,并举例说明了该算法的测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	佘强		3	10	2.0	3.0
2	陈护勋		4	83	2.0	4.0