基于极限学习机的模拟电路测试生成算法

• 作者: 周靖宇 王厚军 田书林 龙兵
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 模拟电路 测试生成算法 分类算法 极限学习机
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 页码范围: 33-37
• 页数: 5页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文

摘要

为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率，提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法。首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类，从而减少分类时间消耗，然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法测试序列生成式，得到基于极限学习机的测试序列生成算法表达式，从而简化了测试结构。实验结果表明，基于极限学习机的模拟电路测试生成算法，在保证精度的前提下，可以较好地减少测试时间消耗，提高测试效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田书林	电子科技大学自动化工程学院	136	1001	16.0	25.0
2	王厚军	电子科技大学自动化工程学院	257	2532	27.0	36.0
3	龙兵	电子科技大学自动化工程学院	69	1038	19.0	28.0
4	周靖宇	电子科技大学自动化工程学院	3	9	2.0	3.0