基于FSM的时序电路测试生成探析

• 作者: 何光进 叶晓慧 王红霞
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 有限状态机 时序电路 转换故障
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 固体电子器件及电路
• 页码范围: 904-906,910
• 页数: 4页
• 分类号: TP914
• 字数: 3048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.03.043

摘要

针对时序电路的结构特点,以有限状态机的状态转换和一致性测试分析为依据,通过采用转换故障模型来实现时序电路的功能测试生成.发现使用VHDL语言和EDA工具软件能很快实现由时序电路到有限状态机的转换,同时可得到时序电路的稳定状态及其有效可及状态.结果表明此方法可实现转换故障的测试生成,是一种研究时序电路功能测试生成的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红霞	海军工程大学电子工程学院	92	354	12.0	15.0
2	叶晓慧	海军工程大学电子工程学院	70	448	12.0	16.0
3	何光进	海军工程大学电子工程学院	17	67	5.0	7.0