基于D2样条插值和LOG算子的亚像素边缘检测

• 作者: 彭嘉雄 李艳
• 来源期刊: 华中理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 图像识别 边缘检测 亚像素 样条插值
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: TP75
• 字数: 2164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2000.03.027

摘要

提出了一种基于D2样条插值和LOG算子的亚像素边缘检测方法.将被检测的图像块在1/2p精度上行列分离分别进行一维D2样条插值,得到亚像素图像,然后将不同尺度的LOG算子与之卷积,所得边缘图像经过边缘融合后得到亚像素边缘.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭嘉雄	华中理工大学图像识别与人工智能研究所	21	672	13.0	21.0
2	李艳	华中理工大学图像识别与人工智能研究所	6	144	5.0	6.0