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摘要:
利用CMOS/SOI工艺在4英寸SIMOX材料上成功制备出沟道长度为1μm、器件性能良好的CMOS/SOI部分耗尽器件和电路,从单管的开关电流比看,电路可以实现较高速度性能的同时又可以有效抑制泄漏电流.所研制的51级CMOS/SOI环振电路表现出优越的高速度性能,5V电源电压下单门延迟时间达到92ps,同时可工作的电源电压范围较宽,说明CMOS/SOI技术在器件尺寸降低后将表现出比体硅更具吸引力的应用前景.
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文献信息
篇名 超高速CMOS/SOI 51级环振电路的研制
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 CMOS/SOI MOSFET 环振电路
年,卷(期) 2000,(5) 所属期刊栏目 学术论文与技术报告
研究方向 页码范围 44-46
页数 3页 分类号 TN451
字数 2904字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.05.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张兴 北京大学微电子研究所 120 618 12.0 20.0
2 王阳元 北京大学微电子研究所 78 1128 15.0 32.0
3 奚雪梅 北京大学微电子研究所 3 2 1.0 1.0
4 倪卫华 北京大学微电子研究所 1 2 1.0 1.0
5 阎桂珍 北京大学微电子研究所 5 12 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
CMOS/SOI
MOSFET
环振电路
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0372-2112
11-2087/TN
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1962
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