用广义逆法解决摄影测量系统的非线性问题

• 作者: 吕乃光 张靖瑜 董明利 邓文怡
• 来源期刊: 北京机械工业学院学报(综合版)
• 学科: 工学
• 关键词: 摄影测量 非线性方程组 最小二乘广义逆法 特征点
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 36-39,49
• 页数: 5页
• 分类号: TB863
• 字数: 2127字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6864.2001.01.008

摘要

为了提高双CCD摄影测量系统对大口径且具有反射表面物体的近场三维测量精度，提出用最小二乘广义逆法解决成像系统的非线性问题，分析比较了用最小二乘广义逆法和Levenberg-Marquart2种方法解决成像系统的非线性问题，并采用投影生成特征点法，对圆抛物面形卫星天线进行测量，重构其面形。实验表明，该系统操作简单、实用性强，消除系统的非线性问题后，测量精度提高20%，测得面形与理论面形相当吻合，可用于大型物体的面形测量。针对被测物具体条件，选择合适的算法消除系统的非线性问题及合适的光照条件有助于提高系统性能及其实用性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓文怡	北京机械工业学院电子信息工程系	78	669	15.0	23.0
2	吕乃光	北京机械工业学院电子信息工程系	87	913	17.0	27.0
3	董明利	北京机械工业学院电子信息工程系	41	490	14.0	21.0
4	张靖瑜	北京机械工业学院电子信息工程系	3	13	2.0	3.0