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摘要:
3-D多芯片组件(MCM)是未来微电子封装的发展趋势.本文介绍了超大规模集成(VLSI)用的3-D封装技术的最新进展,详细报导了垂直互连技术,概括讨论了选择3-D叠层技术的一些关键问题,并对3-D封装和2-D封装及分立器件进行了对比.
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文献信息
篇名 三维(3-D)封装技术
来源期刊 微电子技术 学科 工学
关键词 裸芯片叠层 MCM叠层 3-D MCM技术 3-D封装 垂直互连
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 封装与可靠性
研究方向 页码范围 32-41
页数 10页 分类号 TN305.94
字数 6645字 语种 中文
DOI
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作者信息
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1 何金奇 5 47 1.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
裸芯片叠层
MCM叠层
3-D MCM技术
3-D封装
垂直互连
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子技术
双月刊
1008-0147
32-1479/TN
16开
江苏省无锡市
1972
chi
出版文献量(篇)
322
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0
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