ZnO-B2O3-SiO2系统的相结构与介电性能的研究

• 作者: 吴霞宛 张志萍 李玲霞 王洪儒 郝建民
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 工学
• 关键词: ZnO-B2O3-SiO2系统 超低介电常数 X-射线分析 衍射峰强度 物相含量
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 单晶薄膜及其他功能材料
• 页码范围: 206-208
• 页数: 3页
• 分类号: TM430.130
• 字数: 2431字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2001.03.013

摘要

对ZnO-B2O3-SiO2三元系统进行了XRD和介电性能定量关系的研究。系统的主、次晶相为SiO2、Zn2SiO4相。调整各组分，获得了超低介电常数的介质陶瓷，其介电常数ε为5，介电损耗tan δ≤5×10－4，容量温度系参数αc≤（0±30）×10－6／°C、绝缘电阻IR≥1012Ω，烧结温度为1 140 °C。并对系统进行了X-射线分析，探讨了用X-射线衍射峰强度计算各物相含量的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴霞宛	天津大学电子信息学院	52	469	11.0	19.0
2	郝建民		13	112	7.0	10.0
3	王洪儒	天津大学电子信息学院	31	256	10.0	15.0
4	张志萍	天津大学电子信息学院	26	288	9.0	16.0
5	李玲霞	天津大学电子信息学院	36	308	11.0	15.0