全反射X荧光分析及其应用

• 作者: 付克明 刘恺 王国栋 田宇览 郑素华 马国立
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 物理学
• 关键词: 全反射X荧光分析
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 仪器长级改造
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: O43
• 字数: 2196字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2001.06.004

摘要

全反射X荧光(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,由于其快速、灵敏度高、可同时分析多个元素,近年来得到了迅猛发展.本文简要介绍了该仪器的结构、原理及其应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付克明		7	21	3.0	4.0
2	刘恺		3	22	2.0	3.0
3	郑素华		3	22	2.0	3.0
4	田宇览		1	1	1.0	1.0
5	马国立		3	16	2.0	3.0
6	王国栋		2	8	1.0	2.0