背面直接取样结构电光取样的空间分辨率

• 作者: 孙伟 曹杰 衣茂斌 贾刚 陈占国 高鼎三
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 空间分辨率 电光取样 高斯分布
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 123-125
• 页数: 3页
• 分类号: TN2
• 字数: 1746字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2001.02.010

摘要

介绍了电光取样系统空间分辨率的测量原理和方法,实验结果表明,建立的电光取样仪的空间分辨率为3μm.