产品的响应与消除次冲击的必要性

• 作者: 李鸿儒
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 主冲击 次冲击 系统响应 产品损坏
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 论文研制报告
• 页码范围: 27-33
• 页数: 7页
• 分类号: TB122
• 字数: 4228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2001.02.007

摘要

阐述了在跌落冲击试验时主冲击与次冲击的特点;计算了产品模型对一个单次冲击循环的响应,分析了产品损坏的原因.当产品进行精密冲击试验时,消除次冲击是很有必要的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李鸿儒		20	185	8.0	13.0