电子学革新织物的检验

• 作者: W.N.Rozelle 何志贵 魏丽琼
• 来源期刊: 国外纺织技术：纺织针织服装化纤染整
• 学科: 工学
• 关键词: 织物 质量检验 Elbit幻影系统 以色列 美国 色差分析仪 技术特点
• 年，卷（期）: gwfzjsfzzzfzhxrz_2001,（4）
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TS107

摘要

几年前一匹劳动布评分低于40分时便视为上等品,如今劳动布厂商日常交付的织物疵点水平每100平方码低于1分,这就是织物质量水平的飞跃.织物质量水平显著提高的一个关键归功于从检验的织物生产部门之间信息传递时间的显著缩短,生产厂商到消费者信息反馈渠道也一样,都是有利的.这些发展得益于织物检验程序随着以电子学为基础的系统在速度和准确性方面的快速增长.以包列的Elbit幻影系统(EVS)在该领域享有盛名.