原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
根据弹用电子设备在温度循环时内部温度变化的测定结果,论述了温度变化率对筛选度和循环次数的影响,从而阐明了在温度循环过程中提高温度变化率的作用.
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关键词云
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文献信息
篇名 保证电子设备高筛选度的一种重要途径
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 温度变化率 筛选度 温度循环 筛选
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目 可靠性与环境试验技术及评价
研究方向 页码范围 42-45
页数 4页 分类号 TJ760.6+23
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.06.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘婷 航天机电集团第三研究院总体设计部 1 7 1.0 1.0
2 陈晓彤 航天机电集团第三研究院总体设计部 1 7 1.0 1.0
3 范晓华 航天机电集团第三研究院总体设计部 1 7 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
温度变化率
筛选度
温度循环
筛选
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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9369
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