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电子产品可靠性与环境试验期刊
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保证电子设备高筛选度的一种重要途径
保证电子设备高筛选度的一种重要途径
作者:
刘婷
范晓华
陈晓彤
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
温度变化率
筛选度
温度循环
筛选
摘要:
根据弹用电子设备在温度循环时内部温度变化的测定结果,论述了温度变化率对筛选度和循环次数的影响,从而阐明了在温度循环过程中提高温度变化率的作用.
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篇名
保证电子设备高筛选度的一种重要途径
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
温度变化率
筛选度
温度循环
筛选
年,卷(期)
2001,(6)
所属期刊栏目
可靠性与环境试验技术及评价
研究方向
页码范围
42-45
页数
4页
分类号
TJ760.6+23
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2001.06.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘婷
航天机电集团第三研究院总体设计部
1
7
1.0
1.0
2
陈晓彤
航天机电集团第三研究院总体设计部
1
7
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3
范晓华
航天机电集团第三研究院总体设计部
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节点文献
温度变化率
筛选度
温度循环
筛选
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2001年第6期
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电子产品可靠性与环境试验2001年第2期
电子产品可靠性与环境试验2001年第3期
电子产品可靠性与环境试验2001年第1期
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